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掃描電子顯微鏡(SEM)是一種介于透射電子顯微鏡與光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察手段。它是運用聚焦十分窄的高能電子束來掃描樣品，通過光束合物質(zhì)間的相互作用，來激發(fā)各種物理信息，對這些信息收集、放大還有再成像為了達(dá)到對物質(zhì)微觀形貌表征的目的。新式的掃描電子顯微鏡的分辨率能夠達(dá)到1nm；放大倍數(shù)能夠達(dá)到三十萬倍或者以上連續(xù)可調(diào)；并且景深大，視野大，成像立體效果好。除此之外，掃描電子顯微鏡與其他分析儀器相結(jié)合，能夠做到觀察微觀形貌的同時進(jìn)行物質(zhì)微區(qū)成分分析。掃描電子顯微鏡在巖土、石墨、陶...

掃描電鏡中STEM透射模式的應(yīng)用透射電鏡的加速電壓較高(一般為120-200kV)，對于有機(jī)高分子、生物等軟材料樣品的穿透能力強(qiáng)，形成的透射像襯度低，而掃描電鏡的加速電壓較低(一般用10-30kV)，因此應(yīng)用其STEM模式成透射像，可大大提高像的襯度。有機(jī)太陽能電池用的高分子/富勒烯薄膜(有機(jī)固體實驗室樣品)的透射電子像，在用透射電鏡觀察其分相結(jié)構(gòu)時，由于兩部分襯度都低，因此幾乎無法區(qū)分，而應(yīng)用掃描電鏡的STEM模式觀察時，可清楚地觀察到兩相的結(jié)構(gòu)。應(yīng)用透射電鏡觀察生物樣品時...

掃描電子顯微鏡SEM的基本知識，一定要了解在材料領(lǐng)域中，掃描電鏡技術(shù)發(fā)揮著極其重要的作用，被廣泛應(yīng)用于各種材料的形態(tài)結(jié)構(gòu)、界面狀況、損傷機(jī)制及材料性能預(yù)測等方面的研究。利用掃描電鏡可以直接研究晶體缺陷及其產(chǎn)生過程，可以觀察金屬材料內(nèi)部原子的集結(jié)方式和它們的真實邊界，也可以觀察在不同條件下邊界移動的方式，還可以檢查晶體在表面機(jī)械加工中引起的損傷和輻射損傷等。掃描電鏡的結(jié)構(gòu)及主要性能掃描電鏡可粗略分為鏡體和電源電路系統(tǒng)兩部分。鏡體部分由電子光學(xué)系統(tǒng)、信號收集和顯示系統(tǒng)以及真空抽氣...

掃描電子顯微鏡(SEM)是1965年發(fā)明的細(xì)胞生物學(xué)研究工具，主要是利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態(tài)，即用極狹窄的電子束去掃描樣品，通過電子束與樣品的相互作用產(chǎn)生各種效應(yīng)，其中主要是樣品的二次電子發(fā)射。二次電子能夠產(chǎn)生樣品表面放大的形貌像，這個像是在樣品被掃描時按時序建立起來的，即使用逐點成像的方法獲得放大像。一.原理：如果入射電子撞擊樣品表面原子的外層電子，把它激發(fā)出來，就形成低能量的二次電子，在電廠的作用下它可呈曲線運動，翻越障礙進(jìn)入檢測器，使表面凹凸的各個部分都...

掃描電鏡的放大倍數(shù)像素大小和標(biāo)尺顯微鏡把原先的物體放大成圖像便于我們觀察，物與像的尺寸關(guān)系可通過放大倍數(shù)來衡量。放大率或者放大倍數(shù)(Magnification)，被定義為像寬度L與物寬度l的比值，即：M=L/l(1-1)在掃描電鏡中，一端是電子束在樣品表面l范圍內(nèi)掃描，另一端是信號在顯示器上顯示寬度為L的像，如圖1-2所示的對應(yīng)關(guān)系。通常電鏡顯示器上圖像的寬度L是固定的，所以往往通過調(diào)節(jié)物的尺寸l來改變放大倍數(shù)。尺寸l越大，可以觀察到的范圍(即視場)越大，而放大倍數(shù)越小，這樣...