國產(chǎn)掃描電鏡的成像中襯度是什么？

　　今天小編和大家分享的是國產(chǎn)掃描電鏡的成像中襯度是什么，具體內(nèi)容如下：

　　首先要知道形成掃描透射像的原理：電子束與薄樣品在國產(chǎn)掃描電鏡中相互作用時，會有部分電子透過樣品，這部分透射電子也可用來成像，其形成的像就是STEM像即掃描透射像。

　　與透射電鏡相似的是，國產(chǎn)掃描電鏡的STEM圖像也被分為明場像和暗場像兩種。明場像的探測器安裝在國產(chǎn)掃描電鏡樣品的正下方，當入射電子束穿過樣品后，散射角度較小的電子經(jīng)過光闌孔選擇后進入明場探測器形成透射明場像，散射角比較大的電子經(jīng)DF-STEM電極板反射，由二次電子探頭接受形成暗場像。和明場像相比，國產(chǎn)掃描電鏡中的暗場像的信號相對較弱，下面以明場像為例。

　　而透射像的襯度就是在入射電子束與樣品發(fā)生相互作用下，形成透射電子像，當電子束穿過樣品逸出下表面時，電子束的強度發(fā)生了變化，從而投影到熒光屏上的強度是不均勻的，這種不均勻的強度就形成了透射像。

　　通常以襯度來描述透射電子所成的像，襯度指樣品電子像上相鄰區(qū)域圖像的對比度強度差，通常情況下肉眼無法分辨＜5%的襯度差別，分辨10%的襯度也難，可以用CCD相機等記錄電子化圖像，再進行可增大襯度處理，讓肉眼眼能夠分辨的出。